第1章 绪论.

1.1 课题背景及研究意义 

1.2 软错误及多位翻转的产生

1.3 抗多位翻转存储器分析技术及加固设计研究现状

1.4 本书主要研究内容

1.5本书结构

第 2 章 存储器多位翻转的可靠性评估模型 

2.1概述

2.2 辐射环境的参数化建模

2.3 存储器多位翻转可靠性评估模型

2.4 模型验证与分析

2.5 本章小结

第3章 低冗余的 ECC构造优化技术

3.1概述

3.2 构造SEC—DED—DAEC码

3.3 低误码率 SEC-DED-DAEC码的构造方法

3.4 奇偶校验矩阵的搜索算法

3.5 电路实现及验证

3.6 本章小结

第 4章 二维修正码加固技术

4.1 概述

4.2 低开销高修正能力的二维修正码设计

4.3 二维修正码加固的存储器系统设计

4.4 修正能力及可靠性分析

4.5 本章小结

第5章 故障安全ECC加固技术

5.1 概述

5.2 故障安全ECC码字构造 

5.3 混合码的码字设计

5.4 故障安全存储器系统设计 

5.5 修正能力及可靠性分析 

5.6 本章小结

结论

参考文献