刘子玉，2018年11月入职复旦大学微电子学院青年研究员，硕士生导师。2016年-2018年在香港城市大学电子系从事博士后研究，2010年-2016年清华大学微电子所攻读博士，2006年-2010年吉林大学材料学院攻读本科。主要从事先进封装技术，包括2.5D/3D集成、晶圆级封装、系统级的设计、工艺、仿真等，特别是在高密度互连键合技术、硅通孔技术、三维无源器件等方面进行了诸多创新性研究。目前在国内外顶级封装会议、期刊发表学术论文50篇，申请/授权封装相关专利20项，目前在研的省部级以上3项，横向项目1项，与多家国内知名封装企业合作。

第一章 芯片封装测试的发展史——芯片的 “梳妆打扮”

封装测试的诞生及概念

封装的作用及重要性

封装技术的驱动力

封装的分类

第二章 封装工艺流程——芯片“穿衣装扮”的顺序

磨片减薄

晶圆切割

芯片贴装

芯片键合/互连

塑封成型

第三章 典型的框架型封装技术——芯片的“古装”

通孔插装( Through Hole Packaging, THP )

表面贴装( Surface Mount Technology, SMT) 

第四章 典型的基板型封装——芯片的 “中山装”

球栅阵列封装(BGA) 

芯片尺寸封装(CSP)

第五章 多组件系统级封装——“多胞胎的混搭套装”

多芯片组件封装(MCM)

系统级封装(SiP)

第六章 三维封装 ( 3D Packaging)——新兴的“立体服饰”

三维封裝的出现背景

三维封装的形式及特点

三维封装技术的实际应用

三维封装的未来

第七章 先进封装技术——日新月异的“奇装异服”

晶圆级封装( Wafer Level Package, WLP) 

芯粒技术(Chiplets) 

微机电系统封装

第八章 封装中的测试——“试衣找茬”

测试定义及分类

可靠性测试

参考文献