刘汉诚专著的《硅通孔3D集成技术》系统讨论用
于电子、光电子和MEMS器件的三维集成硅通孔(TSV
)技术的最新进展和未来可能的演变趋势,同时详尽
讨论三维集成关键技术中存在的主要工艺问题和可能
的解决方案。通过介绍半导体工业中的纳米技术和三
维集成技术的起源和演变历史,结合当前三维集成关
键技术的发展重点讨论TSV制程技术、晶圆减薄与薄
晶圆在封装组装过程中的拿持技术、三维堆叠的微凸
点制作与组装技术、芯片/芯片键合技术、芯片/晶
圆键合技术、晶圆/晶圆键合技术、三维器件集成的
热管理技术以及三维集成中的可靠性等关键技术问题
,最后讨论可实现产业化规模量产的三维封装技术以
及TSV技术的未来发展趋势。
《硅通孔3D集成技术》适合从事电子、光电子、
MEMS等器件三维集成研究工作的工程师、技术研发人
员、技术管理人员和科研人员阅读,也可以作为相关
专业大学高年级本科生和研究生的教材。
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